华兴伟业电子取得磁性传感器开关快速老化测试设备专利，提高测试效率及统计数据便捷性_方案设计

华兴伟业电子取得磁性传感器开关快速老化测试设备专利，提高测试效率及统计数据便捷性

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2026-01-28 00:57:15

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国家知识产权局信息显示，宁波华兴伟业电子科技开发有限公司取得一项名为“一种适用于磁性传感器开关快速老化测试设备”的专利，授权公告号CN223841223U，申请日期为2025年3月。

专利摘要显示，本实用新型提供了一种适用于磁性传感器开关快速老化测试设备，包括机壳，机壳的上端设置有检测平台，检测平台上安装有检测线圈，检测线圈内形成有上端开口的检测腔，检测平台上设置有与检测腔连通的置入口；检测平台在位于检测线圈的一侧安装有多个接线座，检测平台的侧上方安装有触控屏，触控屏用于调节测试参数以及显示测试数据；测试时，磁性传感器一端接线在接线座上，另一端置于检测腔内，检测线圈通电后产生磁场使磁性传感器开合，触控屏可显示磁性传感器开合次数；本实用新型提供的一种适用于磁性传感器开关快速老化测试设备，克服了现有磁性传感器老化测试效率低以及不方便统计的缺陷。

天眼查资料显示，宁波华兴伟业电子科技开发有限公司，成立于2005年，位于宁波市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本150万人民币。通过天眼查大数据分析，宁波华兴伟业电子科技开发有限公司参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息9条，专利信息44条，此外企业还拥有行政许可3个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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